XRF鍍層測厚儀主要用于測量金屬材料的涂層厚度。但是，由于測量對象、測量方法、測量環(huán)境、儀器設備等因素引入了大量的測量誤差，為了保證測量結果的準確性和可靠性，有必要進(jìn)行不確定性分析。
XRF鍍層測厚儀可同時(shí)測量磁性基材表面的非磁性涂層(如鋼鐵)(如油漆、陶瓷、鉻等)和非磁性金屬基材表面的非導電涂層(如油漆等)。
儀器內置高精度集成探頭，可通過(guò)電磁感應和渦流效應自動(dòng)檢測襯底性能和鍍層厚度，并可通過(guò)晶格液晶快速顯示結果。
同時(shí)，測量數據可以成組保存，統計數據可以實(shí)時(shí)顯示。用戶(hù)可為每組設置上、下報警值、零位校準和多點(diǎn)校準。全新多點(diǎn)校準和零點(diǎn)校準，使您隨時(shí)進(jìn)行校準非常方便。標準化菜單，確保您可以輕松使用它們。
塑料工業(yè)電鍍、電子材料、電鍍(連接器、半導體、電路板、電容器等)，鋼鐵材料涂層(鐵、鑄鐵、不銹鋼、合金、低表面處理鋼板，等等)和有色金屬材料涂層(銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等)和各種其他涂層厚度測量和成分分析。
EXF鍍層測厚儀是一種非接觸式無(wú)損檢測方法，但該裝置復雜、成本高、測量范圍小。由于有放射源，用戶(hù)必須遵守輻射防護規定。X射線(xiàn)法可測量極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。射線(xiàn)法適用于涂層和基體原子序數大于3的涂層測量。電容法僅用于測量薄導電體上絕緣涂層的厚度。
XRF鍍層測厚儀測量磁性金屬基體條件(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼、等)的磁性涂層厚度(如鋁、鉻、銅、搪瓷、等)、橡膠、油漆和非磁性金屬基質(zhì)(如銅、鋁、鋅、錫等)在導電涂層厚度(如：搪瓷、塑料、橡膠、油漆、等)。
涂層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作方便等特點(diǎn)。EXF鍍層測厚儀主要用于測量金屬材料的涂層厚度。
但是，由于測量對象、測量方法、測量環(huán)境、儀器設備等因素引入了大量的測量誤差，為了保證測量結果的準確性和可靠性，有必要進(jìn)行不確定性分析。
XRF鍍層測厚儀中原子的性質(zhì)是由原子序數決定的，即軌道中質(zhì)子數或電子數，具體x射線(xiàn)能量與原子序數的關(guān)系如圖所示。
K輻射的能量遠高于L輻射的能量。涂層厚度的測量方法主要有楔切法、光學(xué)截斷法、電解法、厚度差測量法、稱(chēng)重法、x射線(xiàn)熒光法、射線(xiàn)背散射法、電容法、磁性測量法和渦流測量法。前五種方法都是有損檢測，測量手段繁瑣、速度慢，更適合抽樣檢查。
XRF鍍層測厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可測量各種金屬涂層的厚度，包括單層、雙層、多層、合金涂層等。EXF涂層測厚儀是一種能譜分析方法，屬于物理分析方法。
當樣品受到X射線(xiàn)照射時(shí)，樣品中所含涂層或基體材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì )發(fā)射出自己*的X射線(xiàn)。不同的元素有不同的X射線(xiàn)特性。當探測器探測到這些特征x射線(xiàn)時(shí)，它會(huì )把它們的光信號轉換成模擬電信號。模擬電信號經(jīng)模數轉換器轉換為數字信號，送入計算機進(jìn)行處理。根據計算機專(zhuān)用應用軟件獲得的譜峰信息，通過(guò)數據處理確定鍍層樣品中各元素的類(lèi)型和各元素的厚度。
