EXF鍍層測厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測量，一般常采用無(wú)損檢測方法。但是，由于測量對象、測量方法、測量環(huán)境、儀器設備等因素引進(jìn)了諸多測量誤差，為確保測量結果的準確可靠，有必要對其進(jìn)行不確定度分析。
本產(chǎn)品能同時(shí)測量磁性基材表面（如鋼和鐵）的非磁性涂鍍層（如油漆、陶瓷、鉻等），以及非磁性金屬基材表面的非導電鍍涂層（如油漆等）。本儀表內置高精密一體化探頭，同時(shí)運用電磁感應和渦流效應兩種原理，自動(dòng)檢測基材屬性并探測涂鍍層厚度，并通過(guò)點(diǎn)陣液晶快速顯示結果。同時(shí)，測量數據可分組保存，并實(shí)時(shí)顯示統計值。用戶(hù)可分別為每組設置上下限報警值、零校準、多點(diǎn)校準。全新的多點(diǎn)校準和零校準，讓您非常方便的隨時(shí)進(jìn)行校準。標準化菜單，確保您非常容易的使用它。
塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層（接插件、半導體、線(xiàn)路板、電容器等）、鋼鐵材料鍍層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）、其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。
EXF鍍層測厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測定。
EXF鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線(xiàn)照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì )發(fā)射出各自的特征X射線(xiàn)，不同的元素有不同的特征X射線(xiàn)；探測器探測到這些特征X射線(xiàn)后，將其光信號轉變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過(guò)模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進(jìn)行處理；計算機*的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息，通過(guò)數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類(lèi)及各元素的鍍層厚度。
EXF鍍層測厚儀能檢測出常見(jiàn)金屬鍍層厚度，無(wú)需樣品預處理；分析時(shí)間短，僅為數十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。
